Konferencja
nt. „Ochrona wzorów przemysłowych w Polsce oraz wzorów wspólnotowych w Unii Europejskiej (OHIM)”
organizowana przez Polską Izbę Rzeczników Patentowych
13-14 grudnia 2004r.
ul. Madalińskiego 20 lok. 2
13 grudnia 2004r.
10. 00 - 10.45 Rejestracja uczestników konferencji
10. 45 - 11.00 Otwarcie konferencji – Marek Besler, Prezes PIRP
Dr Martin Schlötelburg - koordynator w Departamencie Unieważniania Wzorów, Urząd Harmonizacji Rynku Wewnętrznego (OHIM) w Alicante
11.00 – 12.30 Ochrona wzorów zarejestrowanych i niezarejestrowanych w Unii Europejskiej oraz podstawowe pojęcia związane z ochroną wzorów wspólnotowych
12.30 – 13.00 Przerwa
13.00 – 14.30 Wymogi dokumentacji zgłoszeniowej wzoru wspólnotowego oraz postępowanie przed OHIM
14.30 – 15.30 Przerwa
15.30 – 17.00 Unieważnianie rejestracji zarejestrowanego wzoru wspólnotowego
14 grudnia 2004r.
8.00 – 11.15 pojęcie wzoru, wymogi stawiane dokumentacji wzoru przemysłowego w
praktyce Urzędu Patentowego RP, tryb rozpatrywania zgłoszeń wzorów przemysłowych w Urzędzie Patentowym RP – eksperci Stanistaw Walkiewicz, Elżbieta Dobosz, Urząd Patentowy RP
11.15 – 11.30 przerwa
11.30 – 12.15 Sąd Wspólnotowych znaków towarowych i wzorów przemysłowych
-zakres właściwości, zasady postępowania – sędzia Ewa Pisula-Dąbrowska, Przewodnicząca XXII Wydziału Sądu Wspólnotowych Znaków Towarowych i Wzorów Przemysłowych Sąd Okręgowy w Warszawie
12.15 – 12.30 przerwa
12.30 – 14.00 pojęcie wzoru, treść prawa i problematyka naruszeń prawa z
rejestracji wzoru przemysłowego w Polsce - prof. dr hab. Michał du Vall Uniwersytet Jagielloński
14.10 – 15.00 dyskusja, zamknięcie konferencji